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環(huán)境應(yīng)力篩選試驗中低溫儲存篩選和老練篩選的簡單介紹
產(chǎn)品介紹 環(huán)境應(yīng)力篩選試驗中低溫儲存篩選和老練篩選的簡單介紹：
低溫貯存篩選：
低溫存篩選是根據(jù)某些材料在低溫下性能劣化，或根據(jù)各種材料在低溫下冷縮程度不同造成結(jié)構(gòu)破壞而失效的原理，來剔除缺陷產(chǎn)品的一種篩選方法。例如，內(nèi)涂覆材料龜裂而掙斷內(nèi)引線，某些金屬引線在低溫下發(fā)脆而造成脫焊、絕緣材料龜裂而使外殼漏氣等。
老練篩選：
老練篩選就是在較長的時間內(nèi)對元器件連續(xù)施加一定的電應(yīng)力，通過電-熱應(yīng)力的綜合作用來加速元器件內(nèi)部的各種物理、化學反應(yīng)過程，促使元器件內(nèi)部各種潛在缺陷盡早暴露，從而達到剔除早期失效產(chǎn)品的目的。它對工藝制造過程中可能存在的一系列缺陷，如表面沾污、引線焊接不良、溝道漏電、 硅片裂紋、氧化屠缺陷、局部發(fā)熱點、二次擊穿等都有較好的篩選效果。對于無缺陷的元器件，也可促使其電參數(shù)穩(wěn)定。
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